Model LN50 Low Temperature & Vacuum Manual Prober Station

LN50 真空低温探针台

LN50 低温探针台可以对器件进行低温性能的测试，器件的最大尺寸可达到 51mm(2inch)。它可以对材料或器件的电学特性测量、光电特性测量、参数测量、high Z 测量、DC 测量、RF 测量和微波特性测量提供一个测试平台。纳米电子材料、有机器件、半导体材料是在低温探针台在进行测量的比较典型的材料。系统的探针、测试电缆、样品架都有多种类型可供选择，从而满足不同用户的需要。温度范围是78K到475K（使用液氮）,样品台 80K 到 400K，系统需要使用液氮实现变温，热辐射屏大大降低了黑体辐射，提高了制冷效率。冷头上安装加热器，减小了样品的温度梯度，加上热辐射屏上的加热器，整个系统可以实现快速的变温。

应用： 材料、器件、光电、射频

功能

变温样品台：50mm直径。

样品变温范围：80K~400K。控温稳定性优于±0.5K。

可选配接入光纤，可将一根或几根电学探针替换为光纤。

系统直流漏电：<1pA

真空腔体：真空度<6×10-4Pa 

探针控制：标配4个探针臂。调节范围50mm*50mm*30mm，

调节精度优于10um。

显微镜模块：连续变倍单筒显微镜，光学放大倍率：

1.4X~9X（使用1X附加物镜时），视频放大倍率约700

倍。分辨率<2um。