近壁相控阵探头
近壁探头的两端具有较短的盲区(第一晶片和最后晶片的中心到离它们最近的探头外壳边缘的距离是1.5毫米)。它们非常适用于复合材料的通道检测和复合材料的C扫描检测(分层、脱粘和多孔性)。
优势特性
两端具有较短的盲区(第一晶片和最后晶片的中心到离它们最近的探头外壳边缘的距离是1.5毫米)
非常适合于复合材料通道检测
可用于复合材料的C扫描检测(分层、脱粘、多孔性)






单价
¥30000.00/套
品牌
Olympus/奥林巴斯
起订
1套
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产品详情
规格参数
产品图集
品牌:
Olympus/奥林巴斯
单价:
¥30000.00 / 套
起订:
起订1套
总量:
10000套
地址:
上海
发货:
3天
近壁相控阵探头
近壁探头的两端具有较短的盲区(第一晶片和最后晶片的中心到离它们最近的探头外壳边缘的距离是1.5毫米)。它们非常适用于复合材料的通道检测和复合材料的C扫描检测(分层、脱粘和多孔性)。
优势特性
两端具有较短的盲区(第一晶片和最后晶片的中心到离它们最近的探头外壳边缘的距离是1.5毫米)
非常适合于复合材料通道检测
可用于复合材料的C扫描检测(分层、脱粘、多孔性)

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| 单价 | ¥30000.00 / 套 | |
| 销量 | 暂无 | |
| 发货 | 上海3天内 | |
| 库存 | 10000套起订1套 | |
| 品牌 | Olympus/奥林巴斯 | |
| 产品特性 | 近壁探头 | |
| 是否进口 | 否 | |
| 产地 | 加拿大 | |
| 过期 | 长期有效 | |
| 更新 | 2022-11-30 17:10 |
途度(上海)检测科技有限公司发布的复合材料的C扫描检测 分层 脱粘检测 奥林巴斯近壁相控阵探头图集库









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