产品概述
科研级三目正置金相显微镜LH-71S配有大范围移动的载物台、柯拉落射照明系统、长距平场物镜、大视野目镜,图像清晰、衬度好,同时配有偏光装置,可实现偏光观察。适用于薄片试样的金相、矿相、岩相、晶体等结构分析和鉴别,电子芯片的检查或用于观察材料表面特性,如:划痕、裂纹、喷涂的均匀性等及纺织纤维、化学颗粒的分析研究。是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。总放大倍数: 50X- -800X。
产品应用
1、分析金属、矿相内部结构组织。
2、电子厂PCB板、芯片检验。
3、观察材料表面的某些特性,如:划痕、裂纹、喷涂的均匀性。

































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