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产品信息 激光 MBE 是普遍采用的术语,该法是一种纳米尺度薄膜合成的理想方法,高真空下的 PLD 与在线工艺监测的反射高能电子衍射(RHEED)的联合应用,为用户提供了类似于 MBE 的薄膜生长的单分子水平控制。 • 高压 RHEED 用于原位薄膜生长控制。 • 提供原子级薄膜生长控制生长模式控制。(例如:通过 RHEED 振荡实现的 2D 生长模式)。 • RHEED 是一种衍射技术。从屏上产生的衍射图样中,可以实时地破译结构信息。 • 厚度和沉积速率信息。 • 薄膜衬底界面的应力其它结构缺陷可检测。 • 这些信息对于各种纳米结构的高质量外延薄膜生长至关重要。 技术参数 • zui 大束流电压:30 KeV。 • 两组磁线圈,用于衬底平面内和垂直于衬底平面的束流运动。 • 双差动泵(氧气的兼容性高达 500 mTorr )。 • 配有光阀的凹形 RHEED 屏。 • 12 位 CCD 相机。 • K-space 数据采集和软件。 • 与 PLD 系统完全集成。
