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近壁相控阵探头 近壁探头的两端具有较短的盲区（第一晶片和最后晶片的中心到离它们最近的探头外壳边缘的距离是1.5毫米）。它们非常适用于复合材料的通道检测和复合材料的C扫描检测（分层、脱粘和多孔性）。 优势特性 两端具有较短的盲区（第一晶片和最后晶片的中心到离它们最近的探头外壳边缘的距离是1.5毫米） 非常适合于复合材料通道检测 可用于复合材料的C扫描检测（分层、脱粘、多孔性）
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